紫外-可見分光光度法是在190～800nm波長范圍內測定物質的吸光度，用于鑒別、雜質檢查和定量測定的方法。它的應用領域涉及制藥、醫(yī)療衛(wèi)生、化學化工、環(huán)保、地質、機械、冶金、石油、食品、生物、材料、計量科學、農業(yè)、林業(yè)、漁業(yè)等領域中的科研、教學等各個方面，用來進行定性分析、純度檢查、結構分析、絡合物組成及穩(wěn)定常數(shù)的測定、反應動力學研究等。因為儀器涉及到光學、電學和結構等，所以紫外分光光度計最常見故障也分為光源和信號部分，小編對其進行了整理，來一起學習吧！

光源部分

1、故障：氘燈不亮

原因：氘燈壽命到期(此種原因幾率最高)。

檢查：燈絲電壓、陽極電壓均有，燈絲也可能未斷(可看到燈絲發(fā)紅)。

處置：更換氘燈。

2、故障：鎢燈不亮

原因：鎢燈燈絲燒斷(此種原因幾率最高)。

檢查：鎢燈兩端有工作電壓，但燈不亮；取下鎢燈用萬用表電阻檔檢測。

處置：更換新鎢燈。

3、故障：鎢燈不亮

原因：沒有點燈電壓。

檢查：保險絲被熔斷。

處置：更換保險絲，如更換后再次燒斷則要檢查供電電路。

4、故障：氘燈不亮

原因：氘燈起輝電路故障。

檢查：氘燈在起輝的過程中，一般是燈絲先要預熱數(shù)秒鐘，然后燈的陽極與陰極間才可起輝放電，如果燈在起輝的開始瞬間燈內閃動一下或連續(xù)閃動，并且更換新的氘燈后依然如此，有可能是起輝電路有故障，燈電流調整用的大功率晶體管損壞的幾率最大。

處置：需要專業(yè)人士修理。

信號部分

1、故障：吸光值結果出現(xiàn)負值(最常見)

原因：沒做空白記憶、樣品的吸光值小于空白參比液。

檢查：將參比液與樣品液調換位置便知。

處置：做空白記憶、調換參比液或用參比液配置樣品溶液。

2、故障：基線噪聲大

具體表示：樣品室內無任何物品的情況下，全波長范圍內基線噪聲大

原因：光源鏡位置不正確、石英窗表面被濺射上樣品。

檢查：觀察光源是否照射到入射狹縫的中央？石英窗上有無污染物？

處置：重新調整光源鏡的位置，用乙醇清洗石英窗。

3、故障：信號的分辨率不夠

具體表現(xiàn)是：本應疊加在某一大峰上的小峰無法觀察到；

原因：狹縫設置過窄而掃描速度過快，造成檢測器響應速度跟不上，從而失去應測到的信號；按常理，一定的狹縫寬度要對應一定范圍的掃描速度；或者狹縫設置得過寬，使儀器的分辨率下降，將小峰融合在大峰里了。

檢查：放慢掃描速度看一看或將狹縫設窄；

處置：將掃描速度、狹縫寬窄、時間常數(shù)三者擬合成一個最優(yōu)化的條件；

4、故障：紫外區(qū)的基線噪聲大

具體表現(xiàn)：樣品室內無任何物品的情況下，僅僅是紫外區(qū)的基線噪聲大。

原因：氘燈老化、光學系統(tǒng)的反光鏡表面劣化、濾光片出現(xiàn)結晶物。

檢查：可見區(qū)的基線較為平坦，斷電后打開儀器的單色器及上蓋，肉眼可以觀察到光柵、反光鏡表面有一層白色霧狀物覆蓋在上面；如果光學系統(tǒng)正常，最大的可能是氘燈老化，可以通過能量檢查或更換新燈方法加以判斷。

處置：更換氘燈、用火棉膠粘取鏡面上的污物或用研磨膏研磨濾光片(注意：此種技巧需要有一定維修經驗者來實施)；清洗比色皿，更換空白溶液；

5、故障：樣品出峰位置不對

原因：波長傳動機構產生位移。

檢查：通過氘燈的656.1nm的特征譜線來判斷波長是否準確。

處置：對于高檔儀器而言處理手段相對簡單，使用儀器固有的自動校正功能即可；而對于相對簡單的儀器，這種調整則需要專業(yè)人員來進行了。

6、故障：樣品信號重現(xiàn)性不良

原因：排除儀器本身的原因外，最大的可能是樣品溶液不均勻所致；在簡易的單光束儀器中，樣品池架一般為推拉式的，有時重復推拉不在同一個位置上。

檢查：更換一種穩(wěn)定的試樣判定。

處置：采取正確的試樣配置手段；修理推拉式樣品架的定位碰珠。

7、故障：沒有任何檢測信號輸出

原因：沒有任何光束照射到樣品室內。

檢查：將波長設定為530nm，狹縫盡量開到最寬檔位，在黑暗的環(huán)境下用一張白紙放在樣品室光窗出口處，觀察白紙上有無綠光斑影像。

處置：檢查光源鏡是否轉到位，雙光束儀器的切光電機是否轉動了(耳朵可以聽見電機轉動的聲音)。

8、故障：長時間段的負值或滿屏大噪聲

具體表現(xiàn)：做基線掃描或樣品掃描時，基線或信號有一個長時間段的負值或滿屏大噪聲

原因：濾光片飼服電機“失步”，造成檔位錯位，國產電機尤甚。

檢查：重新開機有可能回復，或打開單色器對照波長與濾光片的相對位置來檢查(注意：打開單色器時要保護檢測器不被強光刺激)。

處置：更換飼服電機；

9、故障：吸光值信號上下擺動

具體表現(xiàn)：當儀器波長固定在某個波長下時，吸光值信號上下擺動，特別是測量模式轉換為按鍵開關式的簡易儀器。

原因：開關觸點因長期氧化所致造成接觸不良。

檢查：用手加重力量按琴鍵時，吸光值隨之變化。

處置：用金屬活化劑清洗按鍵觸點即可。

10、故障：噪聲較大

具體原因：樣品室放入空白后做基線記憶，噪聲較大，紫外區(qū)尤甚。

原因：比色皿表面或內壁被污染、使用了玻璃比色皿或空白樣品對紫外光譜的吸收太強烈，使放大器超出了校正范圍。

檢查：將波長設定為250nm，先在不放任何物品的狀態(tài)下調零，然后將空比色皿插入樣品道一側，此時吸光值應小于0.07Abs；如果大于此值，有可能是比色皿不干凈或使用了玻璃比色皿；同樣方法也可判斷空白溶液的吸光值大小。

處置：更換比色皿；更換空白液。

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